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ZoomOptics可獲得更準確的測量結果，無測量誤差
ZoomOptics系統(tǒng)優(yōu)化了探測器的視野，從而消除了孔徑光闌造成的任何影響。結果是測量結果的精度顯著提高。
超薄樣品測量數(shù)據(jù)的超快記錄（2MHz）
薄膜和高導電性材料需要非常高的數(shù)據(jù)采集速率，以準確記錄樣品上表面的快速溫度升高。LFA 467 HyperFlash提供2 MHz的采樣率，這是LFA系統(tǒng)的價值。
性能特點LFA 467 HyperFlash采用單一儀器設置，即無需更換探測器或熔爐，即可在-100 C至500 C之間進行測量。再加上市場上廣泛的配件，該儀器為測定熱物理性質開辟了全新的領域。
由于16個樣品的樣品架，樣品吞吐量高出4倍LFA 467 HyperFlash的一個獨特優(yōu)勢是能夠在整個溫度范圍內(nèi)同時測量多達16個樣本。這允許以更小的操作時間和工作量輸入實現(xiàn)更大的樣本吞吐量。
再填充系統(tǒng)可用于探測器和熔爐上杜瓦瓶的自動再填充，允許LFA系統(tǒng)24小時不間斷運行。
技術參數(shù)縮放光學系統(tǒng)：優(yōu)化的視野（可選，不需要遮罩）
脈沖映射：用于有限脈沖校正和改進的cp測定
紅外探測器
InSb:RT 500 C MCT:-100 C 500 C 探測器補充裝置（可選）大氣：惰性、氧化性、靜態(tài)和動態(tài)
真空： 150毫巴
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